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鍍金鍍層測(cè)厚儀無(wú)損檢測(cè) 鍍金鍍層厚度測(cè)厚儀是一款*無(wú)損檢測(cè)設(shè)備，采用如X射線熒光法、渦流法等非破壞性技術(shù)，能在不損傷鍍金產(chǎn)品前提下，快速精準(zhǔn)測(cè)量鍍層厚度。其操作簡(jiǎn)便，測(cè)量范圍廣、精度高，可適應(yīng)不同形狀和尺寸的工件。廣泛應(yīng)用于電子、珠寶、五金等行業(yè)，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供可靠數(shù)據(jù)支持。

毛細(xì)管 x射線鍍層測(cè)厚儀 毛細(xì)管 X 射線測(cè)試鍍層儀器是一款高精度分析設(shè)備。它借助毛細(xì)管聚焦 X 射線，能精準(zhǔn)聚焦于鍍層微小區(qū)域。該儀器具備高分辨率，可清晰分辨鍍層不同層次結(jié)構(gòu)，準(zhǔn)確測(cè)定鍍層厚度、成分及元素分布等關(guān)鍵參數(shù)。其操作便捷，對(duì)樣品損傷小，能快速獲取可靠數(shù)據(jù)，廣泛應(yīng)用于電鍍、材料科學(xué)等領(lǐng)域，助力鍍層質(zhì)量把控與工藝優(yōu)化 。

高精度X熒光鍍層測(cè)厚儀精度0.001μm 采用先進(jìn)X射線熒光光譜技術(shù)，能無(wú)損、快速且精準(zhǔn)測(cè)量金屬及非金屬基體上鍍層厚度，精度高達(dá)0.001μm ，可滿足對(duì)鍍層厚度有嚴(yán)苛要求的檢測(cè)場(chǎng)景。儀器操作簡(jiǎn)便，分析速度快，數(shù)據(jù)穩(wěn)定可靠，廣泛應(yīng)用于電鍍、電子、五金等行業(yè)，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供有力保障。

電鍍層質(zhì)量檢測(cè)儀器 儀器的主要功能是通過(guò)對(duì)電鍍層的物理和化學(xué)特性進(jìn)行分析，實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)和測(cè)量電鍍層的厚度、附著力、均勻性以及其他有關(guān)參數(shù)，以確保電鍍的質(zhì)量和持久性。

電鍍鍍層厚度測(cè)試儀器 熒光X射線鍍層測(cè)厚儀：該儀器利用X射線照射被測(cè)金屬表面，當(dāng)X射線被反射回來(lái)時(shí)，會(huì)受到金屬表面的反射，從而得到金屬的厚度。

X射線熒光光譜鍍層厚度分析儀 工作環(huán)境要求： 2.1環(huán)境溫度要求：15℃-30℃ 2.2環(huán)境相對(duì)濕度：70% 2.3工作電源：交流220±5V 2.4周?chē)荒苡袕?qiáng)電磁干擾。

電鍍鍍金厚度檢測(cè)儀器 單層厚度范圍： 金鍍層0－8um, 鉻鍍層0-15um, 其余一般為0-30um以內(nèi)， 可最小測(cè)量達(dá)0.001um。 多層厚度范圍: Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um Ni分析厚度:0-30um Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um Ni分析厚度:0-30um Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um Ni分析

iEDX-150Tx射線熒光光譜鍍層厚度測(cè)試儀 鍍層檢測(cè)： 2.1、常見(jiàn)金屬鍍層有： 鍍層 基體NiNi-PTiCuSnSn-PbZnCrAuZn-NiAgPdRh Al●●●●●●●●●●●●● Cu●●●●●●●●●●●● Zn●●●●●●●●●●●● Fe●●●●●●●●