我公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長(zhǎng)色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計(jì)（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、氣相質(zhì)譜儀（GC-MS）、液相色譜儀（LC）、液相質(zhì)譜儀（LC-MS）、能譜儀（EDS）、高頻紅外碳硫分析儀（CS）、礦漿載流在線采樣儀（OSA）等。銷售的儀器設(shè)備應(yīng)用于元素分析，化合物測(cè)試，電鍍鍍層厚度檢測(cè)等。

汞Hg元素含量檢測(cè)儀

鹵素測(cè)試儀熒光能譜儀

經(jīng)濟(jì)、準(zhǔn)確、惠而不凡

快速應(yīng)對(duì)RoHS&WEEE&

無(wú)鹵化指令，有效控制受限物質(zhì)環(huán)保風(fēng)險(xiǎn)

    鹵素測(cè)試儀元素檢測(cè)
     RoHS檢測(cè)：

用戶可方便對(duì)RoHS控制的六類物質(zhì)進(jìn)行檢測(cè)與控制。

Pb、Cd、Hg、六價(jià)Cr（測(cè)試總Cr）PBB、PBDE （測(cè)試總Br）。

     無(wú)鹵檢測(cè)：

優(yōu)良的硬件設(shè)計(jì)和完善的軟件解譜方法，可以的測(cè)試氯（Cl）元素。檢出下限低至≤60ppm。

    鹵素測(cè)試儀開(kāi)放性工作曲線

用戶可很方便的根據(jù)自身材質(zhì)狀況，建立風(fēng)險(xiǎn)材料的工作曲線，全面提工作曲線與被測(cè)材料的對(duì)應(yīng)性。從而大幅度提升風(fēng)險(xiǎn)物質(zhì)的檢測(cè)精度。

鹵素測(cè)試儀分析時(shí)間

可根據(jù)樣品種類設(shè)置不同的檢測(cè)時(shí)間，并可根據(jù)樣品大小自動(dòng)調(diào)節(jié)檢測(cè)時(shí)間以保證所需檢測(cè)精度。

XRF應(yīng)用－無(wú)鹵測(cè)試

對(duì)于氯（Cl）元素的測(cè)量，光路優(yōu)化前后存在的差別，主要原因如下：

① 由于氯（Cl）元素?zé)晒夤庾幽芰枯^低（2.6KeV），空氣會(huì)對(duì)熒光光子產(chǎn)生較為嚴(yán)重的吸收效應(yīng)，從而降低熒光強(qiáng)度，大幅度降低測(cè)量精度。

② 空氣中惰性氣體元素氬（Ar）對(duì)氯（Cl）元素產(chǎn)生的干擾，也會(huì)對(duì)測(cè)量精度產(chǎn)生較為顯著的負(fù)面影響。

光路優(yōu)化之后明顯看出空氣中惰性氣體元素氬（Ar）對(duì)氯（Cl）元素產(chǎn)生的干擾減少。

汞Hg元素含量檢測(cè)儀